公告通知| 2021-5-10 14:16| 发布者: iawbs| 查看: 2501| 评论: 0
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2021年中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟第五批团体标准研讨会于4月29日在中科院物理所M楼二层249会议室召开,由联盟标准化委员会与会委员表决,通过《碳化硅外延层载流子浓度测定—非接触电容-电压法》、《碳化硅栅氧的界面态测试方法—电容-电压测试法》(牵头单位:芜湖启迪半导体有限公司),《金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》、《金刚石单晶位错密度的测试方法》((牵头单位:中国科学院半导体研究所))立项申请。
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
2021年4月30日
第五批团标研讨会会议决议.pdf
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