宽禁带联盟2025年度第二次团标评审会顺利召开 - 联盟动态中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟

2025年6月5日，中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟（以下简称“宽禁带联盟”）2025年度第二次团体标准评审会于中国科学院半导体研究所3号楼332会议室及线上同步召开。此次会议旨在对《碳化硅单晶抛光片边缘缺陷的自动化检测方法反射和透射偏振法》等4项已立项的第八批团体标准进行草案评审；对《碳化硅光波导片》等6项待立项的第九批团体标准进行立项评审。

会议现场

本次会议汇聚了来自中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国科学院半导体研究所、中国科学院物理研究所、清华大学、中国科学院电工研究所、天津理工大学、工业和信息化部电子第四研究院、山西烁科晶体有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、西湖仪器（杭州）技术有限公司、赛迈科先进材料股份有限公司、中国科学院沈阳自动化研究所、瀚天天成电子科技（厦门）股份有限公司、浙江大学杭州国际科创中心、视涯科技股份有限公司、慕德微纳（杭州）科技有限公司、常州科乐为数控科技有限公司、嘉兴晶丰芯驰半导体材料有限公司、西安晟光硅研半导体科技有限公司、山东红点新材料有限公司、河北普兴电子科技股份有限公司等共计30余位委员专家及企业代表。

会议伊始，宽禁带联盟秘书长刘祎晨首先介绍了与会专家及评审规则。在立项评审环节，由中国电子科技集团公司第四十六研究所林健研究员担任评审组长并主持标准立项工作。各牵头单位代表围绕拟立项团体标准项目，系统介绍了项目背景、立项意义、调研情况、发起单位构成以及国内外标准现状对比分析等内容。与会专家就立项必要性、可行性及标准技术创新性等关键问题，与牵头单位代表展开了深入研讨。

标委会委员讨论与评审

随后的草案评审环节，由天津理工大学徐永宽研究员担任评审组长并主持标准评审工作。各起草单位代表依次就4项团体标准的草案进行详细解读，重点围绕标准框架结构、核心技术内容及实施要点等方面展开专业阐述。评审专家组围绕标准名称的规范性、术语定义的准确性、技术参数的合理性、引用文件的适用性，以及标准格式、内容结构和编制说明的完整性等方面，与牵头单位展开了深入细致的研讨交流。

最后，经由标委会与会专家投票表决，《碳化硅光波导片》等6项团体标准成功获准立项，《碳化硅单晶抛光片边缘缺陷的自动化检测方法反射和透射偏振法》等4项标准草案顺利通过评审。起草单位表示，将充分吸收本次会议提出的评审意见，对标准内容和结构进行修改完善。同时积极征求同行业其他单位意见以及下游单位和实际使用需求，做出修改，按照标准制定工作计划进度要求，稳步推进高质量团体标准的发布工作。

本次会议参与研讨标准如下：